半導體高低溫沖擊試驗箱內箱材質采用SUS#304不銹鋼板，外箱材質采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板，增加外觀質感機潔凈度，箱體死角圓弧造型設計，造型美觀大方。

箱體保溫層采用高強度PU及保溫棉，達到優(yōu)良的保溫效果。

箱體配備直徑50mm的測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。

制冷加熱控制系統(tǒng)：

1）制冷機：歐美進口高性能制冷壓縮機（法國泰康全封閉壓縮機或德國谷輪半封閉壓縮機）

  制冷方式：風冷式二元復疊制

  制冷劑：R404A、R23

2）加熱器：鰭片式散熱管形鎳鉻合金U型高效加熱器

3）控制系統(tǒng)：*微電腦大型彩色液晶顯示觸控式控制器，中英文顯示控制系統(tǒng)。具備RS-232通訊界面及連接軟件，可在電腦熒幕上設計程序、收集測試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行，并可實現(xiàn)遠程控制。

1、高溫儲熱范圍：+60℃--+200℃

2、低溫儲冷范圍：-10℃～-55℃（A型） , -10℃～-65 ℃（B型） ,-10℃～-75℃（C型）

3、試驗范圍：

高溫：+60℃~+150℃

低溫：-10℃~-40℃（A型）；-10℃~-55℃（B型）；-10~-60℃（C型）

4、升溫時間：+60℃~+200℃約需25min

5、降溫時間：+20℃~-55℃小于60min；+20℃~-65℃小于75min；+20℃~-75℃小于90min；

6、風門切換時間：小于或等于10S

7、溫度恢復時間：5min

8、溫度波動：±0.5℃

9、溫度偏差：±2℃

型號：BY-260D

①規(guī)格（容量）：63升

測試區(qū)尺寸：400*350*350 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1500*1450*1900 （W*D*Hmm）

②規(guī)格（容量）：80升

測試區(qū)尺寸：500*400*400 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1600*1500*2000 （W*D*Hmm）

③規(guī)格（容量）：150升

測試區(qū)尺寸：600*500*500 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1700*1600*2000 （W*D*Hmm）

④規(guī)格（容量）：225升

測試區(qū)尺寸：500*600*750 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：1800*1800*2000 （W*D*Hmm）

⑤規(guī)格（容量）：500升

測試區(qū)尺寸：800*800*800 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：2600*1900*2000 （W*D*Hmm）

⑥規(guī)格（容量）：1000升

測試區(qū)尺寸：1000*1000*1000 （W*D*Hmm）

外形尺寸（約）：2800*2000*2200 （W*D*Hmm）

免費送貨上門，并安裝調試操作介紹，同時進行機器操作技術培訓。（直到需方員工獨立操作并滿意為止）。

本產品符合GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150 等國家標準。

半導體高低溫沖擊試驗箱用于考核產品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應性，是裝備設計定型的鑒定試驗和批產階段的例行試驗中*的試驗，在有些情況下也可以用于環(huán)境應力篩選試驗。可以說冷熱沖擊試驗箱在驗證和提高裝備的環(huán)境適應性方面應用的頻度僅次于振動與高低溫試驗。